0755-86131192一、基本原理
足弓检测仪主要通过 足底三维形态扫描 + 足弓指数计算 +（可选）动态压力检测 来评估足弓情况。
三维扫描：利用激光/红外/结构光，采集足底立体形态，得到足弓高度、足长、足宽等参数。
指数计算：根据扫描参数，计算多个临床常用指标（如 AHI、CSI、SI），判断足弓类型。
动态检测（部分设备）：结合压力板，分析步态周期中足弓的伸缩情况。
二、常见指标及其意义
足弓高度指数 (AHI, Arch Height Index)
偏低 → 扁平足
正常范围 → 正常足弓
偏高 → 高弓足
公式：足弓高度 ÷ 足长
判定：
Chippaux-Smirak 指数 (CSI)
45% → 扁平足
25%～45% → 正常足弓
<25% → 高弓足
公式：足底中段最窄宽度 ÷ 前足最宽宽度 × 100%
判定：
Staheli 指数 (SI)
1.15 → 扁平足
0.89～1.15 → 正常足弓
<0.89 → 高弓足
公式：足弓中段宽度 ÷ 足跟宽度
判定：
三、检测流程
静态检测
受测者站立于扫描平台，保持自然直立姿势。
扫描仪采集足底三维数据，自动生成足型模型。
软件提取足弓高度、足弓曲率及各类指数。
动态检测（可选）
受测者在带有压力感应的步态平台上自然行走。
仪器采集步态周期中的足底压力分布和足弓形变。
分析是否存在 隐性扁平足（静态正常，但动态时足弓塌陷）。
四、扁平足与高弓足的检测特点
扁平足
足弓高度显著降低，AHI 偏低；
CSI、SI 明显增大（足底中段受力区变宽）；
动态检测时，步态周期中足弓塌陷更明显，常伴随足内翻。
高弓足
足弓高度显著升高，AHI 偏高；
CSI、SI 数值偏低（足底中段接触面狭窄）；
动态检测时，足弓弹性不足，冲击力难以分散，压力集中在前足与后跟。
0755-86131192