足部三维激光扫描仪是如何评测扁平足和高足弓的？

足部健康在我们日常生活中至关重要，尤其是足部问题患者。扁平足与高足弓为两大常见足部问题，分别呈现足弓过低与偏高等现象，造成足底所受压力不均匀，进而诱发疼痛，疲劳等下肢问题。

好在足部三维激光扫描仪能帮我们精准评测上述问题并给出一份详尽的足部健康报告。下面我们就一起来了解一下这个装置对扁平足、高足弓怎么评价吧。

1.激光扫描的基本原理

足部三维激光扫描仪其实原理非常简单，就是将激光光束射向足底，再根据反射光计算出各点准确位置，最后建立足底三维模型。扫描仪将对足底的全部表面进行扫描，包括足弓区域，脚掌，脚趾等。扫描时不接触，即脚底不受任何挤压，很舒服。

2.扁平足评价

扁平足表现为足弓过低或全部塌陷而使脚底与地面几乎全部触及。对于扁平足患者来说，足部的压力分布会出现不均匀，足弓区域的支撑功能不足，导致其他部位（如脚跟和脚趾）承受过多压力。通过足部三维激光扫描医生可对足弓高度及形态进行精确评价并判断有无扁平足发生。

足弓高度：正常足底结构下，足弓形成了一定程度的弧形，足底中部也具有一定高度。若足弓高度小于正常值，则扫描图像中出现较扁平的足弓区，医生可以判断是扁平足。

压力分布：扫描仪也可以与压力传感技术相结合来测量脚底各部位压力分布。扁平足病人脚底压力一般集中于脚跟、脚趾等部位，足弓区域因缺少足弓支持而明显减轻甚至完全不紧张。通过对这些资料的分析，医生们可进一步证实扁平足是否存在及扁平足轻重。

足底形态：三维扫描可精确地显示足底形态变化如足弓塌陷程度等。若足弓区域高度显着低于正常值，且形态呈扁平状，则可基本证实为扁平足。

3.评价高足弓

和扁平足不同，高足弓就是足弓过高，使脚底中间离地距离过大。这一状况也会对脚部压力分布产生影响，并可能造成脚部疲劳和疼痛等运动问题。足部三维激光扫描仪对高足弓进行评测时还可以通过准确的三维数据显示出足弓形态及压力分布情况来辅助医生进行高足弓判断。

足弓高度：对足弓较高者，其足弓高度一般远高于正常足。医生用扫描仪可明显观察足弓高度并和正常值比较。若足弓高度过高，则在三维图像中可以清楚地看到一个比较突出的弯曲区域。

压力分布：高足弓患者一般压力分布不一，尤以脚掌前部及脚趾部位为甚。这些区域压力将较正常人更为集中，足弓区域可能过低或很少。扫描仪可以清晰地拍摄到这些微小的压力变化有助于医生对高足弓的诊断。

足底形态：三维扫描可以显示足弓曲线及高度等信息，有助于医生对足部形态是否过高有更加直观的认识。若足底呈过度弯曲形态并配合压力分布异常可由医生证实为高足弓。

4.综合分析，个性化治疗等

足部三维激光扫描仪既可以准确测量足弓高度，又可以对足底其他关键指标进行分析，例如足掌宽度和脚趾排列情况。医生可透过这些综合数据对足部健康状况有一个较为全面的认识，并根据扁平足或者高足弓病人的不同要求制定个性化治疗方案。